נושא שלUL 1642גרסה מתוקנת חדשה - מבחן החלפת פגיעה כבדה עבור תא כיס,
UL 1642,

▍מהי הומלוגציה של ANATEL?

ANATEL הוא קיצור של Agencia Nacional de Telecomunicacoes שהיא הסמכות הממשלתית של ברזיל למוצרי תקשורת מאושרים להסמכה חובה והן מרצון.נוהלי האישור והתאימות שלה זהים הן עבור מוצרים מקומיים ומחו"ל של ברזיל.אם מוצרים חלים על הסמכת חובה, תוצאת הבדיקה והדוח חייבים להיות בקנה אחד עם הכללים והתקנות שצוינו כפי שמבוקשת על ידי ANATEL.תעודת מוצר תינתן על ידי ANATEL תחילה לפני שהמוצר יופץ בשיווק וייכנס ליישום מעשי.

▍מי אחראי להומלוגציה של ANATEL?

ארגוני התקינה הממשלתיים בברזיל, גופי הסמכה מוכרים אחרים ומעבדות בדיקה הם רשות ההסמכה של ANATEL לניתוח מערכת הייצור של יחידת הייצור, כגון תהליך עיצוב מוצר, רכש, תהליך ייצור, לאחר שירות וכן הלאה כדי לאמת את המוצר הפיזי שיש לעמוד בדרישות. עם תקן ברזיל.היצרן יספק מסמכים ודוגמאות לבדיקה והערכה.

▍למה MCM?

● ל-MCM יש 10 שנות ניסיון ומשאבים בשפע בתעשיית הבדיקות וההסמכה: מערכת שירות באיכות גבוהה, צוות טכני מוסמך עמוק, פתרונות הסמכה ובדיקה מהירים ופשוטים.

● MCM משתפת פעולה עם מספר רב של ארגונים מקומיים המוכרים רשמית באיכות גבוהה המספקים פתרונות שונים, שירות מדויק ונוח ללקוחות.

גרסה חדשה שלUL 1642שוחרר.חלופה לבדיקות פגיעה כבדות מתווספת עבור תאי פאוץ'.הדרישות הספציפיות הן: עבור תא כיס עם קיבולת שגדולה מ-300 מיליאמפר/שעה, אם לא עברו את מבחן הפגיעה הכבדה, הם יכולים להיות כפופים למבחן שחול מוט עגול בסעיף 14A. לתא כיס אין מארז קשיח, מה שמוביל לרוב ל קרע בתאים, שבר ברז, פסולת עפה החוצה ונזקים חמורים אחרים שנגרמו כתוצאה מכשל במבחן פגיעה כבד, ואי אפשר לזהות את הקצר הפנימי שנגרם מפגם התכנון או פגם התהליך.בעזרת בדיקת ריסוק מוט עגול, ניתן לזהות פגמים אפשריים בתא מבלי לפגוע במבנה התא.התיקון נעשה תוך התחשבות במצב זה. הנח דוגמה על משטח שטוח.שים מוט פלדה עגול בקוטר של 25±1 מ"מ על החלק העליון של המדגם.קצה המוט צריך להיות מיושר עם הקצה העליון של התא, כאשר הציר האנכי מאונך ללשונית (איור 1).אורך המוט צריך להיות רחב לפחות ב-5 מ"מ מכל קצה של דגימת הבדיקה.עבור תאים עם כרטיסיות חיוביות ושליליות בצדדים מנוגדים, יש לבדוק כל צד של הכרטיסייה.יש לבדוק כל צד של הלשונית על דגימות שונות.מדידה של עובי (סובלנות ±0.1 מ"מ) לתאים תבוצע לפני הבדיקה בהתאם לנספח A של IEC 61960-3 (תאים משניים וסוללות המכילות אלקליין או אחר שאינו אלקטרוליטים חומציים - תאי וסוללות ליתיום משניים ניידים - חלק 3: תאים וסוללות ליתיום משניים מנסרות וגיליות)