בדיקת נתונים של בריחת תא תרמית וניתוח של הפקת גז
בדיקת נתונים של בריחת תא תרמית וניתוח גזהֲפָקָה,
ניתוח גז,
▍הסמכת SIRIM
למען אבטחת האדם והרכוש, ממשלת מלזיה מקימה תכנית אישורי מוצרים ומפקחת על מכשירים אלקטרוניים, מידע ומולטימדיה וחומרי בנייה. ניתן לייצא מוצרים מבוקרים למלזיה רק לאחר קבלת תעודת אישור מוצר ותיוג.
▍SIRIM QAS
SIRIM QAS, חברה בת בבעלות מלאה של המכון המלזי לתקני תעשייה, היא יחידת ההסמכה המיועדת היחידה של סוכנויות הרגולציה הלאומיות של מלזיה (KDPNHEP, SKMM וכו').
הסמכת הסוללה המשנית מסומנת על ידי KDPNHEP (המשרד המלזי לענייני סחר פנים וצרכנות) כרשות האישורים היחידה. נכון לעכשיו, יצרנים, יבואנים וסוחרים יכולים להגיש בקשה להסמכה ל-SIRIM QAS ולהגיש בקשה לבדיקה והסמכה של סוללות משניות במצב הסמכה מורשה.
▍ אישור SIRIM- סוללה משנית
סוללה משנית כפופה כעת להסמכה מרצון אך היא עומדת להיות בהיקף של אישור חובה בקרוב. תאריך החובה המדויק כפוף לזמן ההכרזה הרשמי של מלזיה. SIRIM QAS כבר החלה לקבל בקשות הסמכה.
תקן אישור סוללה משני: MS IEC 62133:2017 או IEC 62133:2012
▍למה MCM?
● הקימה ערוץ חילופי טכני וחילופי מידע טוב עם SIRIM QAS אשר הקצה מומחה לטפל בפרויקטים ובפניות של MCM בלבד ולשתף את המידע העדכני ביותר בתחום זה.
● SIRIM QAS מזהה נתוני בדיקת MCM כך שניתן לבדוק דוגמאות ב-MCM במקום משלוח למלזיה.
● לספק שירות נקודתי עבור הסמכה מלזיה של סוללות, מתאמים וטלפונים ניידים.
T1 היא הטמפרטורה ההתחלתית שבה התא מתחמם וחומרים פנימיים מתפרקים. ערכו משקף את היציבות התרמית הכוללת של התא. תאים בעלי ערכי T1 גבוהים יותר יציבים יותר בטמפרטורות גבוהות. הגידול או הירידה של T1 ישפיעו על עובי סרט SEI. ההזדקנות בטמפרטורה הגבוהה והנמוכה של התא תוריד את ערכו של T1 ותחמיר את היציבות התרמית של התא. הזדקנות בטמפרטורה נמוכה תגרום לצמיחה של דנדריטים ליתיום, וכתוצאה מכך ירידה ב-T1, והזדקנות בטמפרטורה גבוהה תוביל לקרע של סרט SEI, וגם T1 יקטן.
T2 היא טמפרטורת הקלה בלחץ. הקלה בזמן של גז פנימי יכולה להפיג חום ולהאט את הנטייה של בריחת תרמית.T3 היא טמפרטורת ההדק של בריחת תרמית, ונקודת ההתחלה של שחרור חום מהתא. יש לו קשר חזק עם ביצועי המצע של הסרעפת. הערך של T3 משקף גם את ההתנגדות התרמית של החומר בתוך התא. תא עם T3 גבוה יותר יהיה בטוח יותר בתנאי התעללות שונים.
T4 היא הטמפרטורה הגבוהה ביותר אליה יכולים התאים להגיע במהלך בריחת תרמית. ניתן להעריך עוד יותר את הסיכון להתפשטות בריחת תרמית במודול או במערכת הסוללה על ידי הערכת ייצור החום הכולל (ΔT=T4 -T3) במהלך בריחת תרמית של התא. אם החום גבוה מדי, זה יוביל לבריחה תרמית של התאים הסובבים, ובסופו של דבר להתפשטות למודול כולו.
