מה'חדש ב-IEC62660-3 העדכני ביותר

IEC 62660-3:2022 משתנה מגרסה 2014 כדלקמן.העמודה של סיבות לשינוי נגזרת מהעבודה שלנו בפועל, שעשויה להיות ראויה להתייחסות.

ניתוח מפורט על ניתוח פנימי חדש

הגרסה החדשה מזכירה מבחן קצר פנימי כפוי חדש.השיטה החדשה היא לעורר קיצור פנימי על ידי חדירה ליצירת כרטיסיות חיוביות ושליליות בקיצור שכבה 1 ו-2.ההליך הוא כדלקמן:

1. הכנת תא: קדחו חור במרכז הפנים הגדולות ביותר (כאיורים למטה) או שמרו חור בעת הייצור לאוורור.

2. קיבוע התא: לאחר טעינה מלאה יש לתקן את התא בכלי הבדיקה.התא יהיה מבודד חשמלי מספסל הבדיקה.התא והכניסה ינועו לאורך הציר הניצב.מיקום ההזחה יהיה זהה לתיאור בקצר פנימי מאולץ.

3. חיבור קו הניטור: קו ניטור הטמפרטורה על פני התא, מתח התא, מתח המסוף השלילי של התא והמתכוון (המתח יירשם בקצב דגימה של לפחות 1000Hz);

4. לחץ על המכוון לתא במהירות קבועה של 0.01 מ"מ/שניה.מהירות הלחיצה עשויה להיות מהירה יותר מ-0.01 מ"מ/שניה אם ניתן להשיג קצר חשמלי פנימי חד-שכבתי.יש לעצור את המכבש כאשר מתגלה נפילת מתח פתאומית גלויה, ויש לשחרר את המתכוון מהתא ולשחרר את המכבש.

5. שימו לב: לאחר הלחיצה, התא יישמר למשך שעה.המתכנן יישאר במקומו בעצירה, ויישמר יציב בטווח של ± 0.02 מ"מ בכיווני X, Y ו-Z עד סוף הבדיקה, כולל תקופת התצפית.

6. הערה: לאחר סיום התצפית, ניתן לפרק את התא כדי לבדוק את מספר השכבות המקוצרות.

הודעת MCM:

1. בתקן החדש ISO 6469 IS מצוטט במקום ISO 12405-3.הסיבה היא ש-ISO החליף רשמית את ISO 12405-3 ב-ISO 6469. בינתיים ISO 12405-4 החליף את ISO 12405-1 ו-ISO 12405-2.יצרנים עשויים לשקול מצב זה בעת הגשת בקשה לתקן ISO 12405-1/-2/-3

2. ישנם שני קשיים בקצר הפנימי הכפוי החדש.האחת היא לחדור לחור אם אין חור שמור בעת הייצור.לכן יצרנים עשויים לשקול לשמור חור כדי להתכונן לבדיקה.השני הוא הניטור.התקן דורש לפחות 1000Hz של הקלטה מדורגת.ככל שתדירות ההקלטה גבוהה יותר, הרישום יהיה מדויק יותר;לכן אנו ממליצים להשתמש בהקלטה מהירה יותר.עם זאת, מכשירים חודרים רבים אינם תומכים בהקלטת מתח מסונכרנת.דרושים התקנים חדשים או תוכניות בקרה חדשות.

3. MCM כבר מנוסה בסוג כזה של קצר פנימי כפוי.אנחנו יכולים לספק שירות בדיקות זה.